本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標(biāo)準(zhǔn)等試驗標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗; 符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

1.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

2.測試周期：1~9999次

3.扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

4.正反向各15°，總扭曲角度30°

5.長邊**位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

6.長邊**小位移量為2mm±0.50mm，

7.短邊**位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

8.長邊**小位移量為1mm±0.50mm，

9.夾具安裝尺寸按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

10.長邊彎曲工位數(shù)：5工位

11.短邊彎曲工位數(shù)：5工位

12.雙向扭轉(zhuǎn)工位數(shù)：5工位

13儀器重量：70kg

14.電 壓：AC220V±5%

15.功 率：35W

16.儀器的尺寸：長：74.5cm，寬：38cm  高：30cm 

1、 IC卡動態(tài)彎扭試驗機主機一臺；

2、配置：

1）常用調(diào)試工具一套：

2）臺灣STK交流調(diào)速電機系統(tǒng)一套；

3）臺灣高精度齒輪減速系統(tǒng)一套；

4）高精度光電計數(shù)器一套

4）臺灣衡翼高精度計數(shù)系統(tǒng)一套；

3、產(chǎn)品用途：

   用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。