試驗用途:高加速老化試驗(HAST)目的是為了提高產品環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間,隨著電子、半導體產品可靠性的提高,目前大多電子器件能承受長期的高溫高濕度偏差試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節,測試其制品的密封性和老化性能。
產品參數:
可按需定制
溫度范圍:A(105℃~132°C);B(105℃~142.9°C);C(105C~155°C)可選
壓力范圍:A(壓力表+0.2~2.0Okg/cm);B(壓力表+0.2~3.0kg/cm);C(壓力表+0.2~3.5kg/cm)
濕度范圍:65%~R.H(可調)
濕度波動度:非飽和控制:±2.5%R.H、濕潤飽和控制:R.H
產品特點:
1) 采用進口耐高溫電磁閥雙路結構,在**上降低了使用故障率。
2) 獨立蒸汽發生室,避免蒸汽直接沖擊產品,以免造成產品局部破壞。
3) 門鎖省力結構,解決**代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
4) 試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩定性、再現性.
5) 超長效實驗運轉時間,長時間實驗機臺運轉400小時.
6) 水位保護,透過試驗室內水位Sensor檢知保護.
7) tank耐壓設計,箱體耐壓力(150℃)2.65kg,符合水壓測試6kg.
8) 二段式壓力安全保護裝置,采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
9) 安全保護排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
10) 偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配)
11) USB導出歷史記錄數據,曲線.
適用標準:
GB/T2423.40,IEC60068-2-66,JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A
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