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北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司
主營(yíng):電壓擊穿試驗(yàn)儀; 介電常數(shù)測(cè)試儀; 拉力試驗(yàn)機(jī); 電阻率測(cè)試儀; 高壓漏電起痕試驗(yàn)儀; TOC分析儀; 完整性測(cè)試儀; 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)定; 落球回彈試驗(yàn)機(jī); 
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玻璃橡膠介電常數(shù)測(cè)試儀

2024年04月10日舉報(bào)編輯打印
玻璃橡膠介電常數(shù)測(cè)試儀
價(jià)格: 面議
起批量: 1 件起批
區(qū)域: 北京 海淀區(qū)
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介電常數(shù)測(cè)試儀  介質(zhì)損耗測(cè)試儀  介電常數(shù)測(cè)量?jī)x  
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詳細(xì)介紹

玻璃橡膠介電常數(shù)測(cè)試儀  玻璃的損耗

復(fù)雜玻璃中的介質(zhì)損耗主要包括三個(gè)部分:電導(dǎo)耗、松弛損耗和結(jié)構(gòu)損耗。哪一種損耗占優(yōu)勢(shì),取決于外界因素溫度和電場(chǎng)頻率。高頻和高溫下,電導(dǎo)損耗占優(yōu)勢(shì):在高頻下,主要的是由弱聯(lián)系離子在有限范圍內(nèi)移動(dòng)造成的松弛損耗:在高頻和低溫下,主要是結(jié)構(gòu)損耗,其損耗機(jī)理目前還不清楚,可能與結(jié)構(gòu)的緊密程度有關(guān)。般來(lái)說(shuō),簡(jiǎn)單玻璃的損耗是很小的,這是因?yàn)楹?jiǎn)單玻璃中的“分子”接近規(guī)則的排列,結(jié)構(gòu)緊密,沒(méi)有弱聯(lián)系的松弛離子。在純玻璃中加人堿金屬化物后。介質(zhì)損耗大大增加,并且隨著加人量的增大按指數(shù)規(guī)律增大。這是因?yàn)閴A性氧化物進(jìn)人玻璃的點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)后,使離子所在處點(diǎn)陣受到破壞,結(jié)構(gòu)變得松散,離子活動(dòng)性增大,造成電導(dǎo)損耗和松弛損耗增加。

玻璃橡膠介電常數(shù)測(cè)試儀  介質(zhì)損耗:絕緣材料在電場(chǎng)作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡(jiǎn)稱介損。在交變電場(chǎng)作用下,電介質(zhì)內(nèi)流過(guò)的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角Φ)的余角δ稱為介質(zhì)損耗角。

損耗因子也指耗損正切,是交流電被轉(zhuǎn)化為熱能的介電損耗(耗散的能量)的量度,一般情況下都期望耗損因子低些好

工作特性

   1Q值測(cè)量

  aQ值測(cè)量范圍:21023

  bQ值量程分檔:301003001000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔;

c.標(biāo)稱誤差

 

A(高頻)

C(工頻)

頻率范圍

25kHz~10MHz

100kHz~10MHz

固有誤差

≤5%±滿度值的2%

≤5%±滿度值的2%

工作誤差

≤7%±滿度值的2%

≤7%±滿度值的2%

頻率范圍

10MHz~60MHz

10MHz~160MHz

固有誤差

≤6%±滿度值的2%

≤6%±滿度值的2%

工作誤差

≤8%±滿度值的2%

≤8%±滿度值的2%

   2.電感測(cè)量范圍

A

C

14.5nH~8.14H

4.5nH~140mH

3.電容測(cè)量

 

A

C

直接測(cè)量范圍

1~460p

1~205p

主電容調(diào)節(jié)范圍

40~500pF

18~220pF

準(zhǔn)確度

150pF以下±1.5pF;

150pF以上±1%

150pF以下±1.5pF

150pF以上±1%

   注:大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見使用方法。

   4.信號(hào)源頻率覆蓋范圍

    

A

C

頻率范圍

10kHz~60MHz

0.1~160MHz

CH1

10~99.9999kHz

0.1~0.999999MHz

CH2

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

CH3

1~9.99999MHz

10~99.9999MHz

CH4

10~60MHz

100~160MHz

頻率指示誤差

3×10-5±1個(gè)字

 

   5Q合格指示預(yù)置功能:預(yù)置范圍:51000

   6Q表正常工作條件

   a. 環(huán)境溫度:0+40℃

   b.相對(duì)濕度:<80%;

   c.電源:220V±22V50Hz±2.5Hz

   7.其他

   a.消耗功率:約25W

   b.凈重:約7kg

   c.外型尺寸:(寬××深)mm380×132×280

宏觀結(jié)構(gòu)不均勾性的介質(zhì)損耗

工程介質(zhì)材料大多數(shù)是不均勻介質(zhì)。例如陶瓷材料就是如此,它通常包含有晶相、玻璃相和氣相,各相在介質(zhì)中是統(tǒng)計(jì)分布口。由于各相的介電性不同,有可能在兩相間積聚了較多的自由電荷使介質(zhì)的電場(chǎng)分布不均勻,造成局部有較高的電場(chǎng)強(qiáng)度而引起了較高的損耗。但作為電介質(zhì)整體來(lái)看,整個(gè)電介質(zhì)的介質(zhì)損耗必然介于損耗**的一相和損耗**小的一相之間。

邊緣效應(yīng)

 為了避免邊緣效應(yīng)引起電容率的測(cè)量誤差,電極系統(tǒng)可加上保護(hù)電極。保護(hù)電極的寬度應(yīng)至少為兩倍的試樣厚度,保護(hù)電極和主電極之間的間隙應(yīng)比試樣厚度小。假如不能用保護(hù)環(huán),通常需對(duì)邊緣電容進(jìn)行修正,表 工給出了近似計(jì)算公式 這些公式是經(jīng)驗(yàn)公式,只適用于規(guī)定的幾種特定的試樣形狀。

 此外,在一個(gè)合適的頻率和溫度下,邊緣電容可采用有保護(hù)環(huán)和無(wú)保護(hù)環(huán)的(比較))測(cè)量來(lái)獲得,用所得到的邊緣電容修正其他頻率和溫度下的電容也可滿足精度要求。

使用方法

高頻Q表是多用途的阻抗測(cè)量?jī)x器,為了提高測(cè)量精度,除了使Q表測(cè)試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測(cè)試方法和殘余參數(shù)修正方法。

1.測(cè)試注意事項(xiàng)

a.本儀器應(yīng)水平安放;

b.如果你需要較**地測(cè)量,請(qǐng)接通電源后,預(yù)熱30分鐘;

c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時(shí),當(dāng)接近諧振點(diǎn)時(shí)請(qǐng)緩調(diào);

d.被測(cè)件和測(cè)試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來(lái)的測(cè)量誤差;

e.被測(cè)件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

f.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測(cè)量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。

2.高頻線圈的Q值測(cè)量(基本測(cè)量法)

線圈電感:

線圈號(hào)    測(cè)試頻率    Q值    分布電容p       電感值  

  9         100KHz      98       9.4           25mH

  8         400KHz     138       11.4        4.87mH

  7         400KHz    202       16           0.99mH

  6           1MHz     196       13          252μH

  5           2MHz     198       8.7        49.8μH

  4         4.5MHz    231       7             10μH

  3          12MHz      193     6.9         2.49μH

  2          12MHz      229     6.4        0.508μH            

  1   25MHz50MHz   233211    0.9       0.125μH

技術(shù)參數(shù):

平板電容極片 Φ50mm

間距可調(diào)范圍 ≥15mm

夾具插頭間距 25mm±0.01mm

測(cè)微桿分辨率 0.001mm

夾具損耗角正切值 ≦4×10^-4 (1MHz)

頻率范圍 20KHz-60MHz

頻率指示誤差 3×10^-5±1個(gè)字

頻率精度 1×10^-6

主電容調(diào)節(jié)范圍 30-500/18-220pF

主調(diào)電容誤差 <1%或1pF

Q測(cè)試范圍 2~1023

介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)量范圍 0.0001~1

介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)量精度(1MHz) ±3%

介電常數(shù),用于衡量絕緣體儲(chǔ)存電能的性能.它是兩塊金屬板之間以絕緣材料為介質(zhì)時(shí)的電容量與同樣的兩塊板之間以空氣為介質(zhì)或真空時(shí)的電容量之比。介電常數(shù)代表了電介質(zhì)的極化程度,也就是對(duì)電荷的束縛能力,介電常數(shù)越大,對(duì)電荷的束縛能力越強(qiáng)。電容器兩極板之間填充的介質(zhì)對(duì)電容的容量有影響,而同一種介質(zhì)的影響是相同的,介質(zhì)不同,介電常數(shù)不同。

電橋測(cè)量靈敏度

    電橋在使用過(guò)程中,靈敏度直接影響電橋平衡的分辨程度,為**測(cè)量準(zhǔn)確度,希望電橋靈敏度達(dá)到一定的水平。通常情況下電橋靈敏度與測(cè)量電壓,標(biāo)準(zhǔn)電容量成正比。

    在下面的計(jì)算公式中,用戶可根據(jù)實(shí)際使用情況估算出電橋靈敏度水平,在這個(gè)水平上的電容與介質(zhì)損耗因數(shù)的微小變化都能夠反應(yīng)出來(lái)。

          DC/CDtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)   

         式中:U為測(cè)量電壓                     伏特(V)

ω為角頻率 2pf=314(50Hz)                            

          Cn標(biāo)準(zhǔn)電容器容量                    皮法(pF)

          Ig通用指另儀的電流5X10-10            安培(A)

          Rg平衡指另儀內(nèi)阻約1500              歐姆(W

          R4橋臂R4電阻值3183                 歐姆(W

          Cx被測(cè)試品電容值                    皮法(pF

電介質(zhì)的用途

 電介質(zhì)一般被用在兩個(gè)不同的方面:

 用作電氣回路元件的支撐,并且使元件對(duì)地絕緣及元件之間相互絕緣;用作電容器介質(zhì)

標(biāo)準(zhǔn)配置:

高配Q表 一只  

試驗(yàn)電極  一只 c類)

電感      一套(9只)

電源線    一條

說(shuō)明書    一份

合格證    一份

保修卡    一份

溫度

 損耗指數(shù)在一個(gè)頻率下可以出現(xiàn)一個(gè)**值,這個(gè)頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的,這取決于在測(cè)量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)**值位置。

試驗(yàn)報(bào)告

 試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出下列相關(guān)內(nèi)容:

 絕緣材料的型號(hào)名稱及種類、供貨形式、取樣方法、試樣的形狀及尺寸和取樣 日期(并注明試樣厚度和試樣在與電極接觸的表面進(jìn)行處理的情況);

 試樣條件處理的方法和處理時(shí)間;

 電極裝置類型,若有加在試樣上的電極應(yīng)注明其類型;

 測(cè)量?jī)x器;

 試驗(yàn)時(shí)的溫度和相對(duì)濕度以及試樣的溫度;

 施加的電壓;

 施加的頻率;

 相對(duì)電容率ε(平均值);

 介質(zhì)損耗因數(shù) tans(平均值);

 試驗(yàn) 日期 ;

 相對(duì)電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)值以及由它們計(jì)算得到的值如損耗指數(shù)和損耗角,必要時(shí),應(yīng)給出與溫度和頻率的關(guān)系。

試樣的幾何形狀:

 測(cè)定材料的電容率和介質(zhì)損耗因數(shù),**采用板狀試樣,也可采用管狀試樣。

 在測(cè)定電容率需要較高精度時(shí),**的誤差來(lái)自試樣尺寸的誤差,尤其是試樣厚度的誤差,因此厚度應(yīng)足夠大,以滿足測(cè)量所需要的**度。厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點(diǎn)間厚度的變化。對(duì) 1%的**度來(lái)講,1.5 mm的厚度就足夠了,但是對(duì)于更高**度,**是采用較厚的試樣,例如6 mm-12 mm 。測(cè)測(cè)量厚度必須使測(cè)量點(diǎn)有規(guī)則地分布在整個(gè)試樣表面上,且厚度均勻度在士1%內(nèi)。如果材料的密度是已知的,則可用稱量法測(cè)定厚度 選取試樣的面積時(shí)應(yīng)能提供滿足精度要求的試樣電容。測(cè)量 10 pF的電容時(shí),使用有良好屏蔽保護(hù)的儀器。由于現(xiàn)有儀器的極限分辨能力約 1 pF,因此試樣應(yīng)薄些,直徑為 10 cm或更大些。

 需要測(cè)低損耗因數(shù)值時(shí),很重要的一點(diǎn)是導(dǎo)線串聯(lián)電阻引人的損耗要盡可能地小,即被測(cè)電容和該電阻的乘積要盡可能小 同樣,被測(cè)電容對(duì)總電容的比值要盡可能地大 **點(diǎn)表示導(dǎo)線電阻要盡可能低及試樣電容要小。**點(diǎn)表示接有試樣橋臂的總電容要盡可能小,且試樣電容要大。因此試樣電容**取值為20 pF,在測(cè)量回路中,與試樣并聯(lián)的電容不應(yīng)大于約5 pF

使用和保養(yǎng)

高頻Q表是比較精密的阻抗測(cè)量?jī)x器,在合理使用和注意保養(yǎng)情況下,才能**長(zhǎng)期穩(wěn)定和較高的測(cè)試精度。

a.熟悉本說(shuō)明書,正確地使用儀器;

b.使儀器經(jīng)常保持清潔、干燥;

c.本儀器保用期為18個(gè)月,如發(fā)現(xiàn)機(jī)械故障或失去準(zhǔn)確度,可以原封送回本廠,免費(fèi)修理。

試驗(yàn)步驟

1 試樣的制備

 試樣應(yīng)從固體材料上截取,為了滿足要求,應(yīng)按相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)方法的要求來(lái)制備。

 應(yīng)**地測(cè)量厚度,使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以內(nèi),測(cè)量點(diǎn)應(yīng)均勻地分布在試樣表面。必要時(shí),應(yīng)測(cè)其有效面積。

2 條件處理

 條件處理應(yīng)按相關(guān)規(guī)范規(guī)定進(jìn)行。

3 測(cè)量

 電氣測(cè)量按本標(biāo)準(zhǔn)或所使用的儀器(電橋)制造商推薦的標(biāo)準(zhǔn)及相應(yīng)的方法進(jìn)行。

  1 MHz或更高頻率下,必須減小接線的電感對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。此時(shí),可采用同軸接線系統(tǒng)(見圖 1所示),當(dāng)用變電抗法測(cè)量時(shí),應(yīng)提供一個(gè)固定微調(diào)電容器。

公司承諾:

1.購(gòu)機(jī)前,我們專門派技術(shù)人員為您設(shè)計(jì)的流程和方案

2.購(gòu)機(jī)后,將免費(fèi)指派技術(shù)人員為您調(diào)試安裝

3.整機(jī)保修一年,產(chǎn)品終身維護(hù)

4.常年供應(yīng)設(shè)備的易損件及耗品確保儀器能長(zhǎng)期使用

5、售后管理:我公司實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)化管理,實(shí)行客戶定期電話回訪制度,定期復(fù)查設(shè)備的工作情況,定期電話指導(dǎo)用戶對(duì)設(shè)備進(jìn)行保養(yǎng)和檢測(cè),以便設(shè)備正常運(yùn)轉(zhuǎn),跟蹤客戶的設(shè)備使用情況,以便及時(shí)對(duì)設(shè)備進(jìn)行維護(hù)

6、物流情況:及時(shí)提供貨源,確保全國(guó)范圍內(nèi)2-10內(nèi)到貨,持續(xù)穩(wěn)定地為代理商做全面服務(wù)工作,提供合理的運(yùn)作空間。公司有專業(yè)的技術(shù)人員為您安裝指導(dǎo)。

7、軟件升級(jí):終生免費(fèi)提供新版本控制軟件。

8、安裝培訓(xùn):儀器包裝內(nèi)附有說(shuō)明書,專業(yè)培訓(xùn)人員為客戶**操作者講解儀器正常操作流程、操作注意事項(xiàng)及儀器的日常維護(hù)要求;也可以根據(jù)客戶要求提供上門培訓(xùn)服務(wù)。

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