該加熱臺(tái)（室溫至1500℃）可用于高真空或低真空掃描電鏡中的加熱試驗(yàn)，其可以像一個(gè)大樣品一樣置于掃描電鏡樣品臺(tái)上使用。

利用本樣品臺(tái)可進(jìn)行腐蝕實(shí)驗(yàn)、氣氛或蒸汽環(huán)境下的加熱實(shí)驗(yàn)等（不能通氧氣和水）。在加熱過程中，通過法蘭盤上的一個(gè)針閥將微細(xì)的氣流或蒸汽通入加熱腔中。此時(shí)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的蓋子將加熱腔封閉以與電鏡真空相隔絕，防止意外損害的發(fā)生。整個(gè)高溫加熱過程中，蓋子都將處于封閉狀態(tài)。在氣氛條件下的高溫實(shí)驗(yàn)結(jié)束后，蓋子被打開，以觀察實(shí)驗(yàn)后樣品表面的變化。 當(dāng)然，如果不做氣氛實(shí)驗(yàn)且探頭能承受高溫，蓋子可一直被打開以實(shí)時(shí)觀測(cè)加熱過程中樣品表面的變化。

該加熱臺(tái)的核心部分是一個(gè)陶瓷電阻加熱器。加熱器中間的樣品夾持器形狀可選，有杯狀、平板狀等多種可供選擇。大至 10 x 10 mm² 的平板狀樣品可通過一個(gè)小鎢絲彈簧夾持。

本加熱臺(tái)采取了多種防護(hù)措施防止可能產(chǎn)生的電場對(duì)電鏡圖像產(chǎn)生干擾。