東莞 回收 Fluke/福祿克 Ti32熱像儀 Ti400高精度熱像儀

福祿克Ti32 詳細技術指標
溫度 溫度測量范圍（-10 °C 以下未經校準） -20 ℃ ～ +600 ℃
準確度 ± 2 ℃ 或者 2 %，取大值
發射率修正 是
背景溫度補償 是
傳輸校正 是
成像性能 圖像捕捉頻率 9 Hz 刷新率或 60 Hz 刷新率，取決于型號
探測器類型 320 x 240 焦平面陣列，非制冷微測輻射熱計
熱靈敏度（NETD） ≤ 0.045 ℃，（30 ℃ 目標溫度時）（45 mK）
光譜帶 7.5 μm ～ 14 μm（長波）
可見光照相機 200萬像素
**小焦距 46 cm（約 18 in）

Fluke/福祿克Ti400 詳細技術指標
溫度
溫度測量范圍（-10°C 以下未校準） -20 °C 至 +1200 °C
（-4 °F 至 +2192 °F）
精度 ± 2 °C 或 2 %（25 °C 時，取讀數較大值）
屏顯發射率校正 是（根據數字和表格）
屏顯反射背景溫度補償 有
屏顯傳輸校正 有
成像性能
圖像捕捉頻率 刷新率：9 Hz 或 60 Hz（取決于型號）
探測器類型 320 x 240 像素焦平面陣列，非致冷型微測輻射熱計
熱敏度 (NETD) 30 °C 目標溫度時，≤ 0.05 °C(50 mK)
總像素 76,800
紅外光譜帶 7.5 μm 至 14 μm（長波）
可視（可見光）照相機 工業性能，500 萬像素

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